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步入式高溫老化試驗設(shè)備設(shè)計溫度范圍通常為RT+5℃~85℃，且可根據(jù)客戶要求進行更高溫度的設(shè)計。這樣的設(shè)計靈活性使其能夠滿足不同產(chǎn)品的測試需求。

步入式高溫工業(yè)烘房是一種針對高性能電子產(chǎn)品進行高溫、惡劣環(huán)境測試的重要實驗設(shè)備?。工作室按用戶要求定做，體積從2立方~200立方不等?？刹鹧b現(xiàn)場拼裝結(jié)構(gòu)方式。

南昌高溫老化房應(yīng)用于電源電子、電腦、通訊等產(chǎn)品的老化試驗。室體采用庫板單元組合，內(nèi)容積可任意放大，拆裝容易，可依客戶需要尺寸設(shè)計，并配合顧客擴廠時的遷移。試驗室結(jié)構(gòu)分底部鋼架承重結(jié)構(gòu)、庫板保溫材料、風(fēng)道換氣結(jié)構(gòu)和電器主控系統(tǒng)等。

新能源電子高溫恒溫老化房一般溫度范圍為RT + 10℃～80℃，高溫可按要求做到120℃ ，也有常溫 + 10 - 60℃（無負載情況下實測）、RT~100±3/±5等不同規(guī)格，部分老化房房間設(shè)定溫度范圍在常溫 + 5℃ - 60℃（常溫 + 5℃ - 80℃）范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)，若客戶特別要求，可設(shè)計更高溫度產(chǎn)品。

電子恒溫老化房用于計算機整機、顯示器、電源供應(yīng)器、主機板、車用電子產(chǎn)品等耐高溫性能驗證，確保長期穩(wěn)定性?。測試電子元器件（如芯片、電路板）在高溫下的可靠性，提前暴露焊接缺陷?。

小型高溫老化房是一種用于電子產(chǎn)品、材料及元器件高溫環(huán)境測試的專用設(shè)備，通過模擬高溫環(huán)境檢測產(chǎn)品的耐熱性和穩(wěn)定性。